示波器光隔離探頭TIVP05L發(fā)現(xiàn)非隔離探頭隱藏的快速震蕩的信號。IsoVu™ 探頭技術(shù)實(shí)際上通過光學(xué)隔離消除了共模干擾。這樣就可以按 100V/ns 或更快的速度在 ±60kV 的基準(zhǔn)電壓上提供精確的差分測量。借助我們的 IsoVu Generation 2 設(shè)計(jì)，您能獲得 IsoVu 技術(shù)的所有優(yōu)勢，但大小僅為原來探頭尺寸的 1/5。
發(fā)布日期：2024-09-21
一、示波器光隔離探頭TIVP05L概述
IsoVu 光隔離探頭發(fā)現(xiàn)非隔離探頭隱藏的快速震蕩的信號。IsoVu™ 探頭技術(shù)實(shí)際上通過光學(xué)隔離消除了共模干擾。這樣就可以按 100V/ns 或更快的速度在 ±60kV 的基準(zhǔn)電壓上提供精確的差分測量。借助我們的 IsoVu Generation 2 設(shè)計(jì)，您能獲得 IsoVu 技術(shù)的所有優(yōu)勢，但大小僅為原來探頭尺寸的 1/5。
IsoVu Gen 2 探頭憑借多功能 MMCX 連接器以及帶寬、動(dòng)態(tài)范圍和共模抑制組合，為隔離探頭技術(shù)設(shè)定新的標(biāo)準(zhǔn)。
二、示波器光隔離探頭TIVP05L應(yīng)用
（1） 開關(guān)模式電源設(shè)計(jì)
（2）寬禁帶 GaN 和 SiC 設(shè)備的功率 FET 設(shè)計(jì)/分析
（3）逆變器設(shè)計(jì)
（4）電機(jī)驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)
（5）BCI 或 ESD 測量
（6）電流分流器測量
三、全新升級
對于傳統(tǒng)差分探頭，您必須在高帶寬和高電壓之間做出選擇。IsoVu 探頭采用屏蔽同軸電纜和隔離功能，提供高帶寬和 ±2500V 的差分電壓范圍。
第二代IsoVu TIVP探頭提供 200 MHz、500 MHz 和 1 GHz 的一系列帶寬，以適合您的預(yù)算并構(gòu)建具有特定項(xiàng)目所需性能的工作平臺(tái)。
四、技術(shù)參數(shù)
| 型號 | 帶寬 | 差分電壓 | 共模 電壓 | 共模抑制比 | 光纖電 號纜長度號 |
| TIVP02 | 200 MHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 2 米 |
| TIVP02L | 200 MHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 10 米 |
| TIVP05 | 500 MHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 2 米 |
| 號TIVP05L號 | 號500 MHz號 | 號±2500 V號 | 號±60kV號 | 直流：160dB 號100 MHz：100 dB號 200 MHz：100 dB | 10 米 |
| TIVP1 | 1 GHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 2 米 |
| TIVP1L | 1 GHz | ±2500 V | ±60kV | 直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB | 10 米 |
五、自動(dòng)化測試和調(diào)試
高速數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)正在迅速發(fā)展，以支持?jǐn)?shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)世界的性能需求。下一代串行標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)據(jù)通信要求帶來了新的測試挑戰(zhàn)，突破了當(dāng)今合規(guī)性和調(diào)試工具的極限。泰克提供示波器+探頭自動(dòng)化電氣測試解決方案，以優(yōu)化性能、加快驗(yàn)證周期并加速產(chǎn)品上市。
六、其它產(chǎn)品
Keithley 2600B 系列系統(tǒng) SMU 儀器是業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓源和測量解決方案，適用于高度自動(dòng)化生產(chǎn)測試應(yīng)用。 雙通道和單通道型號都緊密集成一個(gè)精密電源、真正電流源、數(shù)字萬用表和具有脈沖生成功能的電子負(fù)載。 另外，TSP® 技術(shù)可運(yùn)行完整測試程序，適用于自動(dòng)化系統(tǒng)應(yīng)用，TSP-鏈路®技術(shù)允許菊花式鏈接多達(dá) 64 條通道，0.1 fA 至 10 A， 100 nV 至 200 V適用于大容量并行測試。
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