一、SDS1104X-E深圳示波器現(xiàn)貨概述

      SIGLENT/鼎陽 SDS1000X-E系列 超級熒光示波器，四通道系列搭載7英寸的顯示屏，分辨率高達(dá)800*480，帶寬可達(dá)200MHz；SPO 技術(shù)使其具有優(yōu)異的信號保真度：底噪低于業(yè)內(nèi)同類產(chǎn)品，小量程低至500μV /div；

      不同于市面上同類產(chǎn)品采用的壓縮點運算，其可實現(xiàn)14M全采樣點測量運算，毫不遺漏，拒絕失真；同時具備豐富的測量和數(shù)學(xué)運算功能，其中FFT 運算點數(shù)可達(dá)1M點，從而更加細(xì)致地對頻譜進(jìn)行分析；增配協(xié)處理器，全面硬件加速運算測量，帶來酣暢淋漓的用戶體驗！

二、SDS1104X-E深圳示波器現(xiàn)貨特點

（一）深存儲，快刷新

1、SPO技術(shù)，數(shù)字觸發(fā)系統(tǒng)，觸發(fā)靈敏度高，抖動小

2、256 級輝度和色溫顯示，更清晰

3、波形刷新率400,000 wfm/s，輕松捕獲異常波形

4、14 Mpts存儲深度，深入查看波形細(xì)節(jié)

（二）數(shù)據(jù)分析處理的一次變革

1、14 M全采樣點測量，測量精度和采樣精度*相同，不失真

2、14 M全采樣點運算，增配協(xié)處理器完成，速度更快

3、1 M點FFT運算，支持Peaks, Markers, FFT點數(shù)可選

4、支持Zoom、Gating、Math測量和統(tǒng)計功能

5、支持38種自動測量功能

6、硬件加速運算，用戶體驗更暢快

（三）電源環(huán)路響應(yīng)分析（波特圖）

      在電源設(shè)計中超級熒光示波器的穩(wěn)定性是一項非常重要的指標(biāo)。一般來說穩(wěn)定性測量需要用到專門的頻率響應(yīng)分析儀，但因為其高昂的價格往往讓人望而卻步，因此鼎陽科技提供了一套經(jīng)濟(jì)型的解決方案：鼎陽SDS1000X-E示波器和信號源配合標(biāo)配的免費Bode Plot Ⅱ軟件，實現(xiàn)電源環(huán)路測量。

1、全新開發(fā)的波特圖測量核心，更高的測量靈敏度和精度

2、可變激勵掃描模式，對應(yīng)電源控制環(huán)路測試盒其他復(fù)雜測試場景

3、 人性化的UI設(shè)計，參數(shù)設(shè)置更友好

4、列表和游標(biāo)測量，分析結(jié)果更直觀

（四）標(biāo)配串行解碼

      市面上的大多數(shù)示波器本身不標(biāo)配串行CAN、LIN、I2C、SPI、RS-232/UART 總線觸發(fā)和解碼功能，需要額外購買選件開通此項功能。而SDS1000X-E這款產(chǎn)品應(yīng)廣大工程師需求而生，此項功能作為標(biāo)配，免費開放。

      波形與數(shù)據(jù)可同時顯示在界面上，方便查看；以列表的形式將解碼的詳細(xì)信息顯示，并支持將數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲與導(dǎo)出。

（五）強大的調(diào)試分析能力

1、事件搜索和導(dǎo)航，快速定位感興趣的事件

2、MSO邏輯分析儀集成，混合信號分析利器

3、歷史模式和順序模式結(jié)合，異常信號無所遁形

4、基于硬件的Pass/Fail模式，適用于長期監(jiān)測信號

（六）通過Web網(wǎng)頁進(jìn)行遠(yuǎn)程控制

      內(nèi)嵌了Web Server，無需安裝驅(qū)動軟件和上位機(jī)軟件，通過瀏覽器即可對儀器進(jìn)行遠(yuǎn)程控制、觀察波形、獲取測量結(jié)果，可滿足高壓、高溫等特殊環(huán)境的應(yīng)用需求。內(nèi)嵌的虛擬控制面板和示波器面板*相同，使用起來更加簡單方便。SDS1000X-E 支持PC 和手機(jī)兩種風(fēng)格的網(wǎng)頁布局，在手機(jī)上也能輕松完成控制和觀察。

三、技術(shù)規(guī)格

四、其他產(chǎn)品

      示波器除了標(biāo)配的無源探頭，用于測量電壓，還可能需要高壓探頭，測量各種脈沖電壓。

      HP6015A是一款對地輸入阻抗100 MΩ，3.0 pF高壓探頭,衰減倍數(shù)為1000X。要求接入示波器和其他測量設(shè)備的輸入電阻為1 MΩ，輸入電容為7 pF至49 pF。測量電壓高達(dá)20kV(DC+Pk),瞬間脈沖電壓40kV，帶寬高達(dá)100MHz。標(biāo)準(zhǔn)的BNC接口，匹配任何廠家示波器，非常適合單端對地的高電壓測量場合。